【科技】英科學家硏新「旋轉」技術 助法醫識別彈殼上指紋

［星島綜合報道］英國有科學家開發了一種獨特的方法，可以從彈殼等彎曲物體上檢索高分辨率的指紋圖像，這比傳統的法醫方法提供了更詳細和更準確的信息。

來自諾丁漢大學（University of Nottingham）的科學家們開發了一個旋轉平台，讓研究人員和法醫能夠執行高度敏感和非破壞性的「飛行時間二次離子質譜儀」(ToF-SIMS/ Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry )的測量，以及開發高解析率的指紋圖像的表面，這是傳統指紋成像無法捕捉到。他們開發的旋轉平台，爲從金屬彈殼等具有挑戰性形狀和材料的整個表面區域檢索高解析率指紋提供了新的可能性。

從彈殼中提取指紋證據是法醫學工作者面臨的主要難題。雖然在暴力犯罪現場經常能找到開槍和未開槍的彈殼，一直以來，由於彈殼在射擊過程中所經歷的物理條件，以及用於識別和成像指紋的技術，檢索指紋並將上膛者與犯罪行爲聯繫起來是很困難的。

當子彈發射時，槍管內的溫度、壓力和摩擦力都很高。它們還可以被推進劑的殘留物和火藥覆蓋。這些綜合作用往往導致去除、蒸發或降解指紋殘留物中的較強揮發性成分(如水、氨基酸和低分子量有機物，如脂類)及潛在的污漬或模糊的痕跡。這些因素使得諸如氰基丙烯酸酯(強力膠)煙燻(cyanoacrylate fuming )和熒光染色(fluorescent staining )等傳統指紋提取方法難以執行。

ToF-SIMS是一種敏感的表面分析技術，可提供關於表面上不同化學物質位置的非常詳細的信息。該技術使用高能量的正離子束對準樣品的表面，將次級離子從任何與之碰撞的物質中釋放出來。然後，這些離子被加速進入飛行時間分析儀，並根據它們的質量電荷比進行分離，從而產生樣品化學成分光譜的指標。

使用ToF-SIMS生成的圖像顯示了皮膚的摩擦脊（friction ridge）的證據和毛孔水平的細節，在使用氰基丙烯酸酯和染料Basic Yellow 40 (BY40)的傳統技術顯影時，樣品上的指紋未能察見。

硏究人員進行了長達7個月的實驗，以確定沉積在一支韋伯利MkII左輪手槍表面的指紋是如何隨時間變化的。ToF-SIMS技術也是非破壞性的，在此期間沒有觀察到圖像退化的證據，即使樣品反覆暴露在特高壓條件下。

夏普博士(Dr James Sharp)多年來一直在開發這項新技術，他說：「通過增加旋轉平台，將這項研究進一步推進實在令人興奮。我們已經在之前的研究中證明，ToF-SIMS成像提供了在不同類型的表面更準確和詳細的指紋圖像。這種新的旋轉技術使我們能夠在保持證據完整的同時，對複雜材料和形狀的整個表面區域進行更詳細的成像。這將爲一種新的可靠方法鋪平道路，以分析證據，識別相關人員，並將他們與槍支中的彈藥聯繫起來。」

圖片：University of Nottingham、Modern firearms

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